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离子束切割抛光仪常见故障分析与维护方法
2026-09-25
离子束切割抛光仪作为微纳加工领域的关键设备，凭借无应力、高精度的加工优势，广泛应用于半导体、光学元件、材料科学等领域，是制备高质量试样的核心工具。但设备长期高负荷运行中，受操作、环境、部件老化等因素影响，易出现各类故障，掌握故障成因与维护方法是保障设备稳定、提升加工质量的关键。一、常见故障及成因分析离子束切割抛光仪的故障多集中在离子源、真空系统、运动控制与冷却系统，核心问题及成因如下：一是离子源系统故障。作为设备核心，离子源的性能直接影响加工质量。常见故障为离子束不稳定、束流...
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离子枪积污、密封圈老化，离子束切割机定期维护要点
2026-09-22
离子束切割机凭借高精度的切割与抛光能力，在半导体、光学元件、精密材料加工等领域发挥着重要作用。而离子枪作为设备的核心部件，其运行状态直接决定切割质量与设备寿命，积污与密封圈老化则是离子枪常见的问题。做好针对性的定期维护，是保障离子束切割机稳定运行、延长使用寿命的关键。一、离子枪积污：清洁与预防双管齐下离子枪在工作过程中，离子束轰击靶材或工件时，会产生溅射物沉积在枪体内部、电极表面，形成积污。积污不仅会阻碍离子束的正常传输，导致切割精度下降、切面粗糙，还会增加电极间的漏电风险，...
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NANOS台式扫描电镜应用分享 | 多层铺粉过程中粉末堆积密度提升规律：实验与数值模拟研究
2026-09-18
一、摘要一套用于隔离并复现增材制造中金属粉末铺粉过程的定制实验装置，在铺粉进行到第5至10层之后，出现了无法解释的堆积密度突增。我们借助开源软件框架Lethe，采用离散元法(DEM)复现了导致这一致密化现象的实验。结果表明，大规模多层DEM模拟能够重现实验中观测到的致密化现象。基于拉格朗日模拟结果，我们发现在最初几层铺粉过程中，粉床内部颗粒发生显著位移，并伴随有由粉床四周刚性竖直壁面形成的静止区。致密化的程度及其开始出现的层数，均与界定铺粉区域的两道竖直壁面之间的距离相关。本...
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一文看懂分子泵抽气站：工作原理与维护要点
2026-09-18
真空技术是现代物理、材料科学与半导体产业的关键支撑，而分子泵作为获取超高真空的核心设备，其组成的抽气站则承担着稳定维持真空环境的核心使命。分子泵抽气站凭借小巧的体积、清洁无污染的特性，广泛应用于扫描电镜、薄膜沉积等精密领域，成为实验室与生产中的设备。本文将深入解析其工作原理与维护要点，为使用者提供科学指导。一、工作原理：高速旋转的“分子搬运工”分子泵抽气站的核心是分子泵，其工作原理依托高速旋转的转子与气体分子的动量传递，不同于传统真空泵的容积变化或气体吸附方式，实现对气体的高...
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一文读懂台式电镜：原理、优势与适用边界
2026-09-16
在微观观测技术不断迭代的浪潮中，台式电镜以其精巧的设计和不俗的性能，成为材料科学、生物医学、半导体检测等领域的“科研利器”。它既承袭了传统大型电镜的纳米级观测能力，又突破了空间与操作的限制，以亲民姿态填补微观观测的中间需求。本文将带您全面了解设备的工作原理、核心优势及适用边界。一、工作原理：电子束下的微观解码台式电镜的核心逻辑，是借助高能电子束与样品的相互作用，捕捉微观信号并转化为可视化图像，其核心流程环环相扣，构建起精准的观测体系。电子束的生成与聚焦是成像的起点。电子枪发射...
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优化 TEM 制样瓶颈，精密离子减薄仪解锁块材微观表征新路径
2026-08-26
透射电镜解析晶格、晶界、第二相等微观信息的前提，是获得电子可穿透的高质量超薄样品。陶瓷、半导体、地质岩石以及部分难电解合金，很难依靠电解双喷完成制样，机械研磨又极易引入表层形变损伤，精密离子减薄仪便成为这类块体材料TEM前处理的核心设备。设备依靠氩离子轰击溅射原理，在高真空环境中，高能氩离子双向作用于样品表面，通过原子层级剥离，将预研磨后的薄片加工至纳米级厚度。仪器采用电磁‑永磁复合双聚焦离子枪架构，区别传统单一聚焦方案，高电压模式下离子束适度散开，拓展有效薄区面积；切换低电...
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真空不足、离子束偏移，离子减薄仪常见故障排查思路
2026-08-25
在材料微观结构分析领域，离子减薄仪是制备透射电镜样品的核心设备，其性能直接决定样品的减薄质量。然而，设备长期高频运转中，真空不足、离子束偏移等故障时有发生，不仅拖慢实验进度，更可能损伤样品、损耗核心部件。精准掌握故障排查思路，是保障设备稳定运行、提升实验效率的关键。一、真空不足：找准泄漏与泵效的核心症结真空系统是离子减薄仪的基础，若真空度达不到工作阈值，不仅会导致离子束能量衰减，还可能引发样品污染、放电等连锁问题。真空不足的排查，需围绕泄漏点排查与真空泵效能检测双线推进。泄漏...
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什么是双倾样品杆？实操问题处理
2026-08-19
在透射电子显微镜(TEM)、扫描电子显微镜(SEM)等微观分析领域，精准操控样品的观测角度，是解锁材料微观结构的关键。双倾样品杆作为核心辅助装置，凭借对样品双轴倾斜的精准调控，成为材料表征的“关键钥匙”。然而，实操中难免遭遇各类棘手问题，掌握其原理与故障应对方法，是保障微观分析高效推进的核心能力。一、双倾样品杆：微观观测的精密操控核心双倾样品杆是专为电子显微镜设计的样品承载与操控装置，核心功能是让样品在X、Y两个正交轴向实现精准倾斜，从而让观测面与电子束形成理想夹角，捕捉微观...
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